21. Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
پدیدآورنده : Mazumder, Pinaki.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integration -- Testing ، Integrated circuits,، Genetic algorithms,، Integrated circuit layout
رده :
TK
7874
.
75
.
M39
2007
22. Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
پدیدآورنده : Bhattacharya, Debashis
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits,Very large scale integration - Computer simulation ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
B484
1990
23. Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
پدیدآورنده : Bhattacharya, Debashis
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Computer simulation
رده :
TK
7874
.
B484
1990
24. Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
پدیدآورنده : Bhattacharya, Debashis, 1691-
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation
25. High-level test synthesis of digital VLSI circuits
پدیدآورنده : Lee, Mike Tien-Chien
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Computer-aided design,، Digital integrated circuits-- Testing-- Data processing
رده :
TK
7874
.
75
.
L44
1997
26. IDDQ testing of VLSI circuits
پدیدآورنده : edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
27. #Introduction to I_D_D_Q testing
پدیدآورنده : #by Sreejit Chakravarty and Paul J. Thadikaran
موضوع : Iddq testing ،Digital integrated circuits- Testing ،Integrated circuits- Very large scale integration- Testing
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
28. Introduction to VLSI testing
پدیدآورنده : Robert J. Feugate, Jr., Steven M. McIntyre
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration--Testing
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
29. Introduction to VLSI testing
پدیدآورنده : Feugate, Robert J.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
رده :
TK
7874
.
F48
1988
30. Introduction to VLSI testing
پدیدآورنده : Feugate, Robert J.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
F48
1988
31. LSI/VLSI testability design
پدیدآورنده : Tsui, Frank F.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Large scale integration - Testing ، Integrated circuits,Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
T78
1987
32. #LSI/VLSI testability design
پدیدآورنده : #Frank F. Tsui
موضوع : Integrated circuits -- Large scale integration -- Testing ،Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
۴ نسخه از این کتاب در ۴ کتابخانه موجود است.
33. Power- constrained testing of VLSI circuits
پدیدآورنده : Nicolici, Nicola
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)
موضوع : Testing ، Integrated circuits, Very large scale integration,Protection ، Integrated circuits, Very large scale integration,Thermal properties ، Semiconductors
رده :
TK
7874
.
75
.
N5P6
34. Rapid reliability assessment of VLSICs
پدیدآورنده : A.P. Dorey ... (et al.)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Reliability
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
35. Reasoning in Boolean networks
پدیدآورنده : / by Wolfgang Kunz and Dominik Stoffel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Integrated circuits, Very large scale integration, Testing, Data processing,Integrated circuits, Verification, Data processing,Logic design, Data processing
رده :
TK7874
.
K866
1997
36. Reasoning in Boolean networks: logic synthesis and verification using testing techniques
پدیدآورنده : Kunz, Wolfgang
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Integrated circuits-- Verification-- Data processing,، Logic design-- Data processing
رده :
TK
7874
.
K866
1997
37. Reasoning in boolean networks : logic synthesis and verification using testing techniques
پدیدآورنده : Kunz, Wolfgang
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Testing -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Data processing ، Integrated circuits -- Verification,Data processing ، Logic design
رده :
TK
7874
.
K866
1997
38. Self-testing VLSI design
پدیدآورنده : V.N. Yarmolik, I.V. Kachan
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Design
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
39. System-on-chip test architectures
پدیدآورنده : edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK7895
.
E42
S978
2008
40. System-on-chip test architectures :
پدیدآورنده : edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK7895
.
E42
S978
2008
